Quais são as funções dos testes de TIC?

I. As funções gerais dos testes de TIC

1. A fábrica SMT SMD pode detectar todas as peças da placa de circuito montada em segundos, como resistores, capacitores, indutores, triodos, tubos de efeito de campo, diodos emissores de luz, diodos comuns, diodos reguladores de tensão, optoacopladores, ICs, etc. trabalhar dentro das especificações do projeto.

2. É possível determinar antecipadamente defeitos do processo de produção de PCBA, como curtos-circuitos, circuitos quebrados, peças faltantes, conexões invertidas, peças erradas, solda vazia, etc.

3. As falhas ou resultados de teste acima podem ser impressos, incluindo localização da falha, valores padrão da peça e valores de teste para referência do pessoal de manutenção.A dependência do pessoal em relação à tecnologia do produto pode ser efetivamente reduzida.Mesmo que o pessoal não tenha experiência em circuitos de produção de smt, eles ainda são capazes de dar uma contribuição.

4. As falhas nos testes podem ser determinadas e os processadores smt podem analisar as informações para determinar a causa do defeito, incluindo fatores humanos.Isso ocorre para que eles possam abordar, corrigir e melhorar as capacidades de fabricação e qualidade das placas de circuito.
 
II.Recursos especiais de teste de TIC

Técnicas de teste de polaridade de capacitores eletrolíticos:

Capacitores eletrolíticos conectados ao contrário, peças faltando 100% testáveis ​​Capacitores eletrolíticos paralelos conectados ao contrário, peças faltando 100% testáveis

Princípio de operação da tecnologia de teste de polaridade do capacitor eletrolítico:

1.SMTfábrica de processamento de chips é usar a terceira perna para aplicar um sinal de gatilho na parte superior do capacitor eletrolítico, medindo o sinal de resposta entre o terceiro ponto e o pólo positivo ou negativo.

2. Após cálculo com tecnologia DSP (Digital Signal Processing), ele é convertido em um conjunto de vetores por DFT (Discrete Fourier Transform) e FFT (Fast Fourier Transform).O sinal de resposta obtido é convertido do domínio t (tempo) (sinal do osciloscópio) para um conjunto de vetores no domínio f (frequência) (sinal do analisador de espectro).

3. Um conjunto de valores vetoriais padrão é obtido por aprendizagem e, em seguida, os valores medidos do DUT (dispositivo em teste) são comparados com os valores padrão originais usando Pattern Match (técnica de reconhecimento e comparação de recursos) para determinar se a polaridade do objeto em teste está correto.

Pattern Match é usado em aplicações como reconhecimento de impressão digital, reconhecimento de moeda falsa e reconhecimento de retina.

Fundada em 2010 com mais de 100 funcionários e mais de 8.000 m².fábrica de direitos de propriedade independentes, para garantir a gestão padrão e obter os efeitos mais econômicos, além de economizar custos.

Possui centro de usinagem próprio, montador qualificado, testador e engenheiros de controle de qualidade, para garantir fortes habilidades para fabricação, qualidade e entrega de máquinas NeoDen.

3 equipes de P&D diferentes com um total de mais de 25 engenheiros profissionais de P&D, para garantir desenvolvimentos melhores e mais avançados e novas inovações.

Engenheiros de suporte e serviço em inglês qualificados e profissionais, para garantir a resposta imediata dentro de 8 horas, a solução é fornecida dentro de 24 horas.

O único entre todos os fabricantes chineses que registraram e aprovaram CE pela TUV NORD.